壓敏電阻采購,就選源林電子,型號豐富
壓敏電壓和電阻器厚度的關(guān)系:
對ZnO壓敏電阻器,加在每晶界上的電壓約為3.5V,所以當晶粒大小一定時,壓敏電阻器越厚,壓敏電壓越高,關(guān)系如下:
U=UgbNgt , E0.5=U/t
由于壓敏電阻型號太多,篇幅有限,恕不一一呈現(xiàn),欲知詳請,歡迎撥打圖片中的咨詢電話與我們源林電子聯(lián)系,謝謝!
壓敏電阻采購,就選源林電子,廠家直銷
壓敏電阻沖擊電流作用下的老化機理
沖擊電流作用下主要是熱老化。能量迅速注入電阻片,溫度升高很多,使離子的能量大為增加,遷移力增大,使反偏壓側(cè)的Zni,Bi3+等向晶界遷移。
由于壓敏電阻型號太多,篇幅有限,恕不一一呈現(xiàn),欲知詳請,歡迎撥打圖片中的咨詢電話與我們源林電子聯(lián)系,謝謝!
壓敏電阻采購,就選源林電子,自有研發(fā)團隊,滿足個性化需求
氧化鋅壓敏電阻因具有良好的非線性特性而成為低壓電源系統(tǒng)和信息系統(tǒng)中電涌防護的主要設(shè)施。其可靠性主要取決于壓敏電阻耐受電涌沖擊的能力。一個性能良好的氧化鋅壓敏電阻在經(jīng)受電涌沖擊以后,其電氣特性應(yīng)返回到初始狀態(tài)。然而在運行過程中,由于經(jīng)受諸如電應(yīng)力、機械應(yīng)力等各種應(yīng)力的作用,壓敏電阻會出現(xiàn)性能劣化和老化現(xiàn)象,這就降低了壓敏電阻電涌防護的能力。研究人員采用了多種測量及診斷裝置來研究壓敏電阻的老化機理及檢測金屬氧化物壓敏電阻內(nèi)部的狀態(tài)[1~2]。一般經(jīng)常采用的方法是測量直流1mA下壓敏電阻兩端的電壓或者測量壓敏電阻在一定幅值8/20電流沖擊下的殘壓來對壓敏電阻的電氣性能進行分析判斷。但是這些測試方法只能反映壓敏電阻的整體性能,不能反映壓敏電阻的老化及劣化的程度,所以無法為判斷壓敏電阻的性能狀態(tài)提供可靠的判據(jù)。
源林電子壓敏電阻免費取樣,一個電話搞定!
您好,歡迎蒞臨源林電子,歡迎咨詢...
![]() 觸屏版二維碼 |